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接觸角測試儀 技術參數: 1. 光學成像系統:基礎照度0.001Lux、水平600線工業級黑白相機,放大倍率0.7~4.5X 2. 進樣系統:基礎進樣量可控制為70pL,可自動進液 3. 樣品臺移動控制:X-Y 100*100mm(可定做), Z 25mm 4. 樣品臺尺寸:100*100mm(可定做)技術參數
傅里葉紅外光譜儀 一、應用:用于半導體材料內部含量檢測,同質外延厚度測量和其他應用,用于*進的半導體工廠,在硅生長和器件制造領域進行材料表征 二、技術參數: 1.光譜范圍:遠紅外、中紅外、近紅外、可見光 2. 信噪比:55000:1 3.光譜分辨率(cm-1):0.09電阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm
四探針電阻率測試儀的應用:半導體材料、太陽能電池材料(硅、多晶硅、碳化硅等),新材料、功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、Ag納米線等)、導電薄膜(金屬、離子等),擴散層,硅相關外延材料,離子注入樣品。
冷熱沖擊試驗箱 技術參數: 1. 溫度范圍:周圍環境溫度+50 +200℃ -70~0℃ 3溫區 2. 高溫曝露到+200℃:15分鐘以內 3. 常溫曝露:5分鐘 4. 低溫曝露:-65℃15分鐘
高低溫(濕熱) 試驗箱 產品概述: 1. 新型冷凍機的使用,實現了大范圍、高精度的溫濕度控制 2. 40 模式可編程控制器、具有多種語言選擇、試驗數據U 盤存儲 3.故障追溯功能、試驗箱發生故障之前的運行狀態會被自動記錄并保存
立式高溫試驗箱簡述:滿足各種產品、零部件及材料在高溫恒溫環境下貯存、運輸、使用時間適應性試驗要求。采用定值和程序兩種控制。定值控制可進行自動開始結束設定,適合于生產線熱處理干燥處理。程序控制可進行10個模式,每個模式20步的程序設定。滿足有溫度上升、下降斜率設定的溫度特性試驗。